Минимальная описанная окружность, определенная по данным сканирования Уравнительная окружность, рассчитанная по 4 отдельным точкам Максимальная вписанная окружность, определенная по данным сканирования Оценка формы Одноточечная (по 4-точечному измерению) Различные координаты центров минимальной описанной/максимальной вписанной окружностей

водимость измерений. После извлече-постоянным, а результаты измерения
ния и повторной загрузки детали она нестановятся точнее.
обязательно находится в том же самом
положении.Обмер неизвестных контуров
Повторное измерение одноточечнымВ отличие от сканирования пассивны-
датчиком может давать различные значе-ми датчиками, активное сканирование
ния. Сканирующий датчик может даватьможно применять для обмера неизвест-
дифференцированный анализ место-ных контуров. Оцифровка контура перед
положения и формы благодаря болеесканированием не требуется. Поэтому
тщательному измерению.активное сканирование также позволяет
выполнять воспроизведение изделий по
Только у ZEISS:образцу.
активное сканирование
Большинство сканирующих системИзмерение с использованием очень
пассивны. Их измерительное усилие соз-маленьких наконечников щупов
дается пружинным параллелограммом.Очень маленькие наконечники щупов
Поскольку контролируемый диапазонтребуются, например, для измерения
пассивных датчиков мал, на них постоян-боковых поверхностей зубьев шестерен
но влияют меняющиеся силы, что приво-или внутренних поверхностей отвер-
дит к довольно большому изгибу щупастий. Поскольку эти элементы часто
и большой погрешности измерения.находятся на тонких валах, требуется
В результате с увеличением скоростистабильное минимальное измеритель-
падает точность. С другой стороны,ное усилие, исключающее прогиб этих
компания ZEISS работает с активнымивалов. Поэтому активные датчики VAST
сканирующими щупами и является– идеальное решение для выполнения
единственным производителем, пред-точных измерений с использованием
лагающим активные датчики. Например,миниатюрных наконечников щупов.

датчик ZEISS VAST XT gold постоянно измеряет изгиб своего щупа. Постоянное низкое измерительное усилие активно прилагается в противоположном

направлении электроникой. Например, щуп перемещается в направлении ускорения портала. Тем самым практически устраняются динамические воздействия. Низкое измерительное усилие остается